トピックス

高速検査装置「Fcube®」リリースのお知らせ

2011.11.16

高速検査装置「Fcube®」ロゴ

高速検査装置「Fcube®」をリリースいたしました。

高速&高分解能で高S/N比の欠陥画像が得られ、速いラインでも高精度の欠陥検査を実現します。また多種の信号処理アルゴリズムが実行できるLSIを搭載しており複雑な地合の検査にも対応します。

  • 速度&分解能の例
    • ライン速度:100~150m/分、分解能:20~50μm
    • ライン速度:~50m/分、分解能:10μm
  • 適用分野の例
    • PVバックシート
    • 光学フィルム
  • データ転送能力:640MHz
  • 多重露光撮像方式(TDI方式)に対応
高速検査装置「Fcube®」についてのお問合せ(センシング応用技術部)

お問い合わせフォーム

お電話・FAXでのお問合せ

  • TEL 0545-62-2141
  • FAX 0545-62-2139