解析技術

解析・分析技術
  • 試料調整
  • 形態解析
  • 有機解析
  • 薄膜・表面解析
  • 固体構造解析
  • 物性解析
  • 計算化学、メソスケールシミュレーション、計算工学
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旭化成グループの研究開発および繊維・不織布、化学品・樹脂、電子部品・材料、医薬・医療、建築材料等の多様な素材・製品群の製造と品質を支えてきた分析・解析・シミュレーション技術を活かし、皆様方の色々な解析ニーズに対して、信頼性のある情報を迅速に提供させていただきます。

*解析項目のリンクには具体例を、解析装置のリンクには装置概要・原理を紹介しています。

試料調整

解 析 項 目 解析レベル 解 析 装 置
特殊染色法によるポリマーアロイ界面層の観察 〜10nm
(界面厚みとして)
TEM
(ウルトラミクロトーム)
硬さの異なる複合材料の超薄切片作成による界面観察 〜10nm
(界面厚みとして)
FE-SEMTEM
(ウルトラミクロトーム)
斜め切削法を用いた薄膜の深さ方向解析   SAICAS
FIBマイクロサンプリング法試料作製技術
→無機・有機複合材料などの迅速薄片試料作製
〜100μm
(加工幅として)
10〜20μm
FIB
マイクロマニピュレータを使用した微小異物のサンプリング    
極微量試料の溶媒分離    

形態解析

解 析 項 目 分 解 能 解 析 装 置
SEMによる極表面微細構造観察 〜5nm FE-SEM
薄膜SEM法による複合材料の高分解能観察 〜5nm FE-SEM
極低加速STEMによるポリマーの観察   UHRSEM
EPMAによる微小部および薄膜の化学状態分析   EPMA
FE-TEM/EDXによるnmオーダーの局所元素分析 〜1nm
(最小プローブ径)
TEM

有機材料解析

解 析 項 目 分 解 能 解 析 装 置
有機微小異物  〜1μm 顕微FT-IR、
顕微IRイメージング
顕微RAMAN
EDX、μ-XRF
顕微レーザーRAMANによる、微小異物の同定  〜1μm 顕微RAMAN、EDX
顕微IRイメージングでの解析 〜10μm 顕微FT-IR、
顕微IRイメージング
表面化学種の深さ方向解析   角度可変ATR
顕微IRによるPC表層における変性挙動のマッピング   顕微FT-IR
組成分布、有機薄膜解析 〜5μm 斜め切削法、
顕微IR、
顕微RAMAN
IR, NMR, MSを駆使した微量試料の有機組成解析(添加剤など)
および分子構造解析
  有機一般 
微量物質(ppb以下)の同定・定量   各種濃縮法+MS
臭気残存モノマー・溶媒 〜ppt 臭い嗅ぎGC、
GC/MSLC/MS
固相マイクロ抽出(SPME)を用いた微量物質の迅速分析 〜ppt  GC/MS
各種加熱発生ガス(同定、温度依存性) 〜ppb 熱分解GC/MS
(TG/MSの代用)
各種材料の組成解析 〜20mg 分離、IRNMR、MS
熱分解GC/MS法による樹脂の解析 〜1mg 熱分解GC/MS
クライオプローブを用いた13C高感度測定 〜mg NMR
NMRによる高分子構造の精密解析 〜mg NMR
高分子末端解析(MALDI-TOF/MS)   MALDI-TOF/MS
Si-NMRによる反応解析   NMR
硬化物の構造解析 〜mg 熱分解GC/MS、
固体NMR
分子量分布測定 〜mg GPC、高温GPC
イオン性物質の解析 〜10ppb イオンクロマト

薄膜・表面解析

解 析 項 目 分 解 能 解 析 装 置
定量的な相解析による構造解析   EPMA
高精度研磨技術による試料作製技術:
シリコン樹脂 /TiO2フィラー界面の解析
  FIBFE-SEM
FE-AESによる高分解能測定(高倍測定)   AES
TOF-SIMSによる極表面(原子層レベル)の質量分析 〜Å TOF-SIMS
凍結法TOF-SIMSによるポリマーコート層表面官能基の解析 〜Å TOF-SIMS
AFMによる相分離構造の観察   SPM
表面にブリードアウトした液状添加剤の観察   SPM
SPM技術(水中、加熱環境)による極表面の物性評価およびマッピング   SPM
デバイス異常部の汚染物質の分析 〜Å TOF-SIMS
TOF-SIMSによる付箋紙の付着不良原因の解析 〜Å TOF-SIMS
FP-XRFによる多層膜の積層構造(組成および膜厚)の解析    
化学ラベル化法XPSを用いたポリマー表面の官能基分析 〜nm XPS
XPSによる固体極表面の化学状態分析 〜nm XPS
高分子のフィルムの極表面における結晶解析   GIXS 
微小角入射X線回折法による極薄膜・界面の解析   GIXS

固体構造解析

解 析 項 目 分 解 能 解 析 装 置
二次元共焦点ミラー付き小角散乱測定装置によるナノ構造の評価 100nm以下の
ナノ構造
Small Angle X-ray
Scattering
Rietveld法による結晶構造の精密構造解析 結晶格子中の
原子配置 
XRD
多核高分解能固体NMRによる化学状態解析
(C、Si、Al、Na、Li、F)
  固体NMR

物性解析

解 析 項 目 分 解 能 解 析 装 置
熱分析解析技術    
SPM(MFM)による光磁気ディスク、磁性材料の解析   SPM
AFMによる相分離構造の観察   SPM

計算化学・メソスケールシミュレーション・計算工学

解 析 項 目
計算機シミュレーションPDF形式[ PDF 214KB ]
触媒反応の解析と設計
半導体材料の設計
Liイオン電池の電解液の熱分解反応予測
電解質イオンの拡散シミュレーション
相分離構造(海島構造、多孔質構造、界面厚み)の予測
高分子材料シミュレーションPDF形式[ PDF 379KB ]
熱、気体の流れ解析:邸別住環境シミュレーション
多孔質内の流体の流れ解析

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